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Laboratoire d'Analyses Matériaux

 

 


 

Microscope électronique MEB

Microscope Electronique à Balayage (MEB)

 

Spectre Inca Energy

Spectre EDX avec le logiciel INCA

 

analyse

Appareils standards

(mesure angle de goutte, resistivité, ...)

 

 

Fort de sa très longue expérience, d'un équipement adapté et d'une équipe de scientifique de haut-niveau, Surcotec SA analyse vos matériaux et leurs surfaces afin de vous délivrer des solutions durables à vos problèmes de contamination, oxydation, sulfuration, usure, rupture, traitement de surface et autres problèmes de propreté.

Afin de répondre le plus professionellement possible à votre problème rencontré et afin qu'il ne se reproduise plus à l'avenir, Surcotec va suivre le schéma suivant:

  1. poser un diagnostic sur l'origine des anomalies observées.
  2. trouver la solution la mieux adaptée aux problèmes identifilés.
  3. définir la méthode de mise en application de la solution.
  4. si besoin, suivi de l'application de la solution chez le client.
palette roue ancre
amiante
palette roue ancre
palette roue ancre
palette roue ancre
palette roue ancre
Fibre amiante
palette roue ancre

 

1. Liste non-exhaustive de nos prestations:

- Observation et analyses des surfaces au microscope électronique à balayage (MEB - grossissement de 25x à ~ 50'000x).

- Coupe métallographiques, révélations de structure, mesures de dureté.

- Mise en évidence de porosité, fissures et autres défauts superficiels.

- Mesures dimensionnelles, mesures d'épaisseurs de couches galvaniques ou autres.

- Quantification et identification de la contamination superficielle (analyse chimique).

- Analyse quantitative d'alliages métalliques, mise en évidence de ségrégations et d'inclusions (carte de distribution élémentaire).

- Expertises pour des assurances, corrosion de matériaux, qualité des revêtements.

- Contrôle d'entrée (alliage métalliques) ou de production (propreté).

 

Moyens analytiques à disposition:

- Microscopie électronique à balayage (MEB) avec un appareil Leica S430 en électrons secondaires et rétrodiffusés (contraste chimique)

- Microanalyse rayons X (spectrométrie à dispersion d'energie EDX) avec une microsonde Link Isis d'Oxford couplée au programme d'analyse Inca. Analyse qualitative et quantitative des éléments à partir du carbone.

- Spectrométrie infrarouge à transformée de Fourier (FT-IR) avec spectromètre infrarouge Paragon 1000 de Perkin Elmer.

- Poste de titration GP736 Titrino de Metrohm pour des analyses chimiques simples (dosage pH-métrique, dosage de l'eau selon Karl Fischer)


 

Amiante:

 

A. Analyse des Matériaux

  • Contrôle au microscope électronique (MEB)
  • Rapidité (sous 48h)

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B. Analyse de l'air (VDI 3492)

  • Contrôle au microscope électronique (MEB)
  • Rapidité
  • Professionalisme: rapport détaillé

Pour en savoir plus: => Analyses d'amiante

 

 

Nos moyens analytiques

 

Analyse titration

 

Microscopie électronique à balayage (MEB) avec un appareil Leica S430 en électrons secondaires et rétrodiffusés (contraste chimique)

Microanalyse rayons X (spectrométrie à dispersion d'energie EDX) avec une microsonde Link Isis d'Oxford couplée au MEB. Analyse qualitative et quantitative des éléments à partir du carbone.

Spectrométrie infrarouge à transformée de Fourier (FT-IR) avec spectromètre infrarouge Paragon 1000 de Perkin Elmer.

Poste de titration GP736 Titrino de Metrohm pour des analyses chimiques simples (dosage pH-métrique, dosage de l'eau selon Karl Fischer)

 

Les couches minces

couches mincesLes technologies de dépôts sous vide, respectueuses de l'environnement, permettent l'élaboration de couches minces d'une large variété de composition.

Les substrats utilisables sont d'une grande diversité (métaux, céramiques, polymères, verres) et sont traités à basse température (jusqu'à 50°C).

En savoir plus sur les Couches Minces